6月19日，比利时安特卫普大学XRF应用研究中心（AXE）Piet Van Espen教授应邀来我中心举办了“历史绘画及颗粒物样品XRF微区分析”讲座，介绍了该中心近年来在XRF微区分析领域取得的进展，重点介绍了数据压缩及拟合方法简化计算方法。这些方法适应了微区分析海量数据分析处理需要。其中对梵高油画的分析结果在美国分析化学杂志作为封面论文发表，得到全世界几十家新闻媒体报道。在介绍数据分析技术的同时，教授谆谆告诫青年人，从事科学研究，要静下心、沉下去、耐得住寂寞。讲座结束后，分析室就单颗粒自动分析合作可能性与教授进行了探讨。